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X-RAY熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質量管控、來料檢驗及生產過程控制中測量使用。
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